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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
。缺陷在不断增加,缺陷检测则变得更加困难。通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT),Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷类型的通孔封装缺陷、片上缺陷甚至板载
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
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赛默飞(原FEI)Quattro
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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透射电镜(原FEI) 赛默飞 其他资料
点击查看下载透射电镜(原FEI) 赛默飞 其他资料相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供
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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术(Single Particle Analysis,SPA)可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功
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透射电镜赛默飞(原FEI) 应用于其它环境/能源
点击查看下载透射电镜赛默飞(原FEI) 应用于其它环境/能源相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有
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